Ex-Situ Measuring Systems
For Vacuum Coating

冯阿登纳异位 GC 测量系统专为玻璃镀膜的质量保证和质量监控而开发。可以将它们用于光伏应用的功能性镀膜、低发射率 (Low-E) 镀膜和光学镀膜。该系统还适用于光学表征和薄膜电阻的测量。

我们目前用于 Low-E 镀膜玻璃的异位测量系统超越了镀膜玻璃板的纯光学测量的范围。它们可以预测由当前生产的玻璃板制成的双层和三层中空玻璃的外观（技术参数、发射率、U 或 G 值）。

如需了解更多详细信息，请查看宣传手册或直接联系我们。

持续的质量保证

和参数控制

针对光学和电气膜层

特性的工业验证和协调计量

通过全面和快速的表征

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VON ARDENNE Vacuum Equipment (Shanghai) Co., Ltd.

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201602 上海
中国

Chase Han

Deputy Head of SalesVON ARDENNE Vacuum Equipment (Shanghai) Co., Ltd.

Ex-Situ Measuring Systems For Vacuum Coating

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针对光学和电气膜层

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工程服务 模拟 . 样和开发服务. 机器布局

技术和应用中心 打样和膜层开发

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