原位测量系统
用于真空镀膜

原位测量系统将镀膜机内不同镀膜步骤的结果相结合，有助于监控镀膜工艺。它们对于质量控制和最大限度地减少调整时间至关重要。

为了实现这一目标，通过测量这些膜层的透射率、反射率、电阻率和其他光学特性来表征和监控这些膜层。

如需了解更多详细信息，请查看宣传手册或直接联系我们。

持续的质量保证和

参数控制

针对各种膜层特性进行工业

验证和协调计量

通过全面和快速的表征获得

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Deputy Head of SalesVON ARDENNE Vacuum Equipment (Shanghai) Co., Ltd.

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