原位测量系统
用于真空镀膜

原位测量系统将镀膜机内不同镀膜步骤的结果相结合,有助于监控镀膜工艺。它们对于质量控制和最大限度地减少调整时间至关重要。

为了实现这一目标,通过测量这些膜层的透射率、反射率、电阻率和其他光学特性来表征和监控这些膜层。

如需了解更多详细信息,请查看宣传手册或直接联系我们。

持续的质量保证和

参数控制

针对各种膜层特性进行工业

验证和协调计量

通过全面和快速的表征获得

高质量的产量

支持
媒体
暂无消息
联系信息
06.05.2024 - 09.05.2026
SVC Annual Conference 2024

Booth: nn
Chicago Hilton, Illinois, USA

14.05.2024 - 16.05.2024
Optatec Frankfurt 2024

Booth: 318
Messe Frankfurt (1 Halle)

16.05.2024 - 18.05.2024
TiExpo 2024

Booth: A / 099
Suzhou. (The city close to Shanghai)

 

19.05.2024 - 24.05.2024
ICMCTF 2024

Booth: 321
Grand Exhibit Hall of the Towne and Country Hotel
and Convention Center San Diego
California, USA

SALES Contact

Am Hahnweg 8
01328 Dresden
Deutschland

VON ARDENNE Vacuum Equipment (Shanghai) Co., Ltd.

Plant 7, No 801 Qiangye Road, Songjiang District
201602 SHANGHAI
PR CHINA

SERVICE Contact VAVE

Plant 7, No 801 Qiangye Road, Songjiang District
201602 SHANGHAI
PR CHINA

搜索